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整流橋怎么測(cè)量好壞?2種方法測(cè)量整流橋的好壞

作者:佚名    文章來源:本站原創(chuàng)    點(diǎn)擊數(shù):    更新時(shí)間:2021/12/5

整流橋怎么測(cè)量好壞?2種方法測(cè)量整流橋的好壞
一、電阻測(cè)試法

電阻測(cè)試法是利用二極管的單向?qū)ㄌ匦裕瑴y(cè)試其正向有電阻讀值與反向截止無讀值來判斷其是否好壞,這套測(cè)量整流橋的好壞方法是很常見的一種。

測(cè)試工具與對(duì)象:一臺(tái)正常的萬用表與一款待判斷的整流橋。

測(cè)試條件設(shè)定:萬用表打到20K歐姆檔位,紅筆萬用表正極,黑筆萬用表負(fù)極。

測(cè)試方法與步驟為:紅筆接整流橋負(fù)極,黑筆分別接兩個(gè)交流腳位,若均有讀值顯示則說明負(fù)極與交流之間的兩顆芯片正常;黑筆接整流橋正極,紅筆分別探測(cè)兩個(gè)交流腳位,若均有讀值顯示則表明整流橋正極與交流間的兩顆芯片為正常。

測(cè)試結(jié)果總結(jié):若測(cè)試過程中結(jié)果反饋如上所述,則表示該整流橋4顆芯片均正常,萬用表讀值為該測(cè)試芯片的內(nèi)阻值;若出現(xiàn)非一致的情況,比如數(shù)值為1(無窮大)則說明整流橋中該顆芯片已經(jīng)損壞。

二、壓降測(cè)試法

壓降測(cè)試法是利用萬用表二極管檔位直接測(cè)試整流橋內(nèi)部二極管芯片的方法,讀值為壓降的參考值或近似值。測(cè)試方法與電阻測(cè)試法大致類似,也是很常見的一種測(cè)量整流橋好壞的方法。

測(cè)試工具與對(duì)象:一臺(tái)萬用表與一款待判斷的整流橋產(chǎn)品。

測(cè)試條件設(shè)定:萬用表打到二極管檔位,紅筆萬用表正極,黑筆萬用表負(fù)極。

測(cè)試方法與步驟為:紅筆接整流橋負(fù)極,黑筆接整流橋正極,此時(shí)測(cè)試結(jié)果為整個(gè)整流橋的壓降參考值;如需分別測(cè)試每顆芯片的壓降值,則方法為黑筆接整流橋正極,紅筆分別探測(cè)兩個(gè)交流腳位;紅筆接整流橋負(fù)極,黑筆分別探測(cè)兩個(gè)交流腳位,此時(shí)所測(cè)結(jié)果為內(nèi)部獨(dú)立二極管芯片的壓降參數(shù)值。

測(cè)試結(jié)果總結(jié):上述測(cè)試結(jié)果為該整流橋內(nèi)部二極管芯片壓降的參考值,有示數(shù)說明該芯片正常,可以輔助判斷整流橋通斷與好壞情況。如有非一致的情況出現(xiàn),比如數(shù)值為1(無窮大)則說明整流橋中該顆芯片已經(jīng)損壞。

Tags:整流橋,測(cè)量  
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