整流橋怎么測(cè)量好壞?2種方法測(cè)量整流橋的好壞
一、電阻測(cè)試法

電阻測(cè)試法是利用二極管的單向?qū)�通特性，測(cè)試其正向有電阻讀值與反向截止無(wú)讀值來(lái)判斷其是否好壞，這套測(cè)量整流橋的好壞方法是很常見(jiàn)的一種。

測(cè)試工具與對(duì)象：一臺(tái)正常的萬(wàn)用表與一款待判斷的整流橋。

測(cè)試條件設(shè)定：萬(wàn)用表打到20K歐姆檔位，紅筆萬(wàn)用表正極，黑筆萬(wàn)用表負(fù)極。

測(cè)試方法與步驟為：紅筆接整流橋負(fù)極，黑筆分別接兩個(gè)交流腳位，若均有讀值顯示則說(shuō)明負(fù)極與交流之間的兩顆芯片正常；黑筆接整流橋正極，紅筆分別探測(cè)兩個(gè)交流腳位，若均有讀值顯示則表明整流橋正極與交流間的兩顆芯片為正常。

測(cè)試結(jié)果總結(jié)：若測(cè)試過(guò)程中結(jié)果反饋如上所述，則表示該整流橋4顆芯片均正常，萬(wàn)用表讀值為該測(cè)試芯片的內(nèi)阻值；若出現(xiàn)非一致的情況，比如數(shù)值為1（無(wú)窮大）則說(shuō)明整流橋中該顆芯片已經(jīng)損壞。

二、壓降測(cè)試法

壓降測(cè)試法是利用萬(wàn)用表二極管檔位直接測(cè)試整流橋內(nèi)部二極管芯片的方法，讀值為壓降的參考值或近似值。測(cè)試方法與電阻測(cè)試法大致類(lèi)似，也是很常見(jiàn)的一種測(cè)量整流橋好壞的方法。

測(cè)試工具與對(duì)象：一臺(tái)萬(wàn)用表與一款待判斷的整流橋產(chǎn)品。

測(cè)試條件設(shè)定：萬(wàn)用表打到二極管檔位，紅筆萬(wàn)用表正極，黑筆萬(wàn)用表負(fù)極。

測(cè)試方法與步驟為：紅筆接整流橋負(fù)極，黑筆接整流橋正極，此時(shí)測(cè)試結(jié)果為整個(gè)整流橋的壓降參考值；如需分別測(cè)試每顆芯片的壓降值，則方法為黑筆接整流橋正極，紅筆分別探測(cè)兩個(gè)交流腳位；紅筆接整流橋負(fù)極，黑筆分別探測(cè)兩個(gè)交流腳位，此時(shí)所測(cè)結(jié)果為內(nèi)部獨(dú)立二極管芯片的壓降參數(shù)值。

測(cè)試結(jié)果總結(jié)：上述測(cè)試結(jié)果為該整流橋內(nèi)部二極管芯片壓降的參考值，有示數(shù)說(shuō)明該芯片正常，可以輔助判斷整流橋通斷與好壞情況。如有非一致的情況出現(xiàn)，比如數(shù)值為1（無(wú)窮大）則說(shuō)明整流橋中該顆芯片已經(jīng)損壞。