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無源晶振測試電路圖 Passive crystal tester circuit diagram

作者:佚名    文章來源:本站原創(chuàng)    點(diǎn)擊數(shù):    更新時間:2018-06-13


本文介紹一款簡單易作的晶振測試裝置,原理電路如附圖所示。

無源晶振測試電路圖 Passive crystal tester circuit diagram 
圖中,V1及其外圍元件(包括被測晶振)共同組成一個電容三點(diǎn)式振蕩器。當(dāng)探頭X1、X2兩端接入被測晶振時,電路振蕩。振蕩信號經(jīng)V2射極跟隨級放大后輸出,經(jīng)C4耦合、D1、D2倍壓整流后為V3提供偏置電流,V3導(dǎo)通,LED發(fā)光。若晶振不良或斷路,電路則不能起振,因而LED不發(fā)光。

該裝置結(jié)構(gòu)簡單,所用元件極為普遍,而且只要元件質(zhì)量良好,裝配無誤,不需調(diào)試即可一次成功。探頭可利用兩個插孔代替。也可以選用帶電纜的表筆或測試棒,但引線不宜過長。該測試議可測試頻率為450KHz~49MHz的各種晶振,工作電源推薦采用6V疊層電池。

Tags:晶振測試儀,電路圖,晶振  
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